產(chǎn)品概述

奧林巴斯BX53P正置偏光顯微鏡觀察方式

奧林巴斯BX53P在偏振光應(yīng)用中，采用了光學(xué)校正和光學(xué)設(shè)計(jì)相結(jié)合的方法，可提供優(yōu)良的偏振光應(yīng)用性能。一條擴(kuò)展的兼容的生產(chǎn)線使其具有足夠的通用性來處理幾乎任何領(lǐng)域的觀測和測量應(yīng)用。可選的補(bǔ)償測量等全系列的眾多優(yōu)秀功能。BX53P足以應(yīng)付在幾乎所有的領(lǐng)域觀察和測量應(yīng)用。

奧林巴斯BX53P正置偏光顯微鏡觀察方式的特點(diǎn)：

UIS2系統(tǒng)：可以防止光學(xué)顯微鏡性能的惡化，消除影響因素，即使是在光路中引入了類似的光學(xué)元件，如暗片等。保持高度的系統(tǒng)靈活性，BX53P還接受中間附件，可用于副系列系統(tǒng)，以及相機(jī)和成像系統(tǒng)。

精密的設(shè)計(jì)和制造技術(shù)應(yīng)用于-P和-P目標(biāo)降低內(nèi)部應(yīng)變.粉末冶金顯微鏡具有高EF值濾光片和分析器，使圖像對(duì)比度更高。為了滿足研究和應(yīng)用的多樣性要求，設(shè)計(jì)了普適的-P系列目標(biāo)，以適應(yīng)除偏振光觀測之外的范圍廣泛的觀察方法，包括轉(zhuǎn)制方法和熒光顯微鏡方法。

范圍廣泛的補(bǔ)償器：六種不同的可用于普通-P顯微鏡，允許測量不同的亞單位水平，范圍從0到20λ。為了便于測量，更高的圖像對(duì)比度可以通過使用更高或更高的等級(jí)來改變整個(gè)視場中的更高的圖像對(duì)比度。

銳利的顯微成像：以U-CPA為觀察依附，復(fù)律與觀察之間的關(guān)系簡單、快速.圖像對(duì)焦簡單、準(zhǔn)確。使用一個(gè)更好的場停止使得獲得一致的清晰的圖像成為可能。

堅(jiān)固準(zhǔn)確的轉(zhuǎn)臺(tái)：附在旋轉(zhuǎn)臺(tái)上的旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)允許試樣平穩(wěn)旋轉(zhuǎn).此外，在每45度有一個(gè)點(diǎn)擊停止機(jī)構(gòu)提供精確的測量.隨著增加一個(gè)雙機(jī)械階段的選擇，進(jìn)一步的X-Y運(yùn)動(dòng)是可能的。

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